電子繞射分析。
不同維度之EDS定性及半定量成分分析。
EDS搭配STEM的BF, DF2, DF4, HAADF偵測器同步獲取影像和光譜訊號可進行光譜原素全畫面(full frame)、 選區(selected area)和線掃描(line scan)等掃描分析模式。
NBD strain分析。
3D電子束體層攝影術影像及成分分析(S/TEM and EDS)。
樣品升溫反應資訊。
樣本製備要求:
為減少儀器不必要的污染並確保系統穩定運作,本中心對試片種類及試片製備上有以下規定,凡未符合規定者,本單位有權拒絕受理。
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必需已於校內【EM0000017504】(場發射槍穿透式電子顯微鏡FE-TEM)分析確認過樣品狀況。
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預約使用本儀器者,
請於預約時段前 7 天
,主動且詳實填寫
【EM011800】(場
發射掃描/穿透式電子顯微鏡 Talos FES/TEM)儀器預約相關注意事項與樣品檢測申請表
每一欄位,並完成回傳確認後,才可進行委託操作流程;未依規定完成者,將取消該預約時段。
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粉末樣品(奈米材料): 粉末或奈米材料滴附在鍍碳銅網後,請務必於80℃以上溫度烘乾至少24小時,並於乾燥箱或真空狀態下保存。若樣品放入機台後,導致真空度異常(真空讀值高於標準值Accelerator= 1,Column = 1,Detection Unit < 25),將立即中止實驗並取出樣品。
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具磁性的樣品
(凡含有Fe、Co、Ni等元素)
禁用本機台。
樣品替代製備方式:(粉末樣品-適用冷凍切薄機(Ultramicrotome)而塊材與薄膜樣品適用-場發射雙束型聚焦離子束顯微鏡(FIB))。
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如需使用 NanoEx-i/v 加熱載座,請務必檢附高於 100 °C 分析溫度之 TGA 與 DSC 數據,以利評估並觀察樣品於升溫分析過程中的變化。
收費標準:(依使用狀況調整)
開放服務對象:校內、校外學術單位及產業界
儀器委託操作申請服務辦法
1.每月25日上午9點至國科會基礎研究核心設施預約服務管理系統,預約下一個月序號,序號預約完畢後與技術員聯繫討論委託操作時段。
線上預約網址:
https://vir.nstc.gov.tw/
2. 取消預約請於5天前系統自行取消;否則酌收儀器時段基本費。
聯絡資訊:
儀器負責教授:
陳詩芸
教授
TEL:(02)2737-6517
E-mail:SYChen@mail.ntust.edu.tw
儀器負責技術員:吳盈瑩 小姐
TEL:(02)2733-3141#7413
E-mail:ying22.wu@mail.ntust.edu.tw
106335 臺北市大安區基隆路 4 段 43 號
No.43, Keelung Rd., Sec.4, Da'an Dist., Taipei City 106335, Taiwan (R.O.C.)
Tel: 886-2-27333141
24小時緊急校安專線: 0800-695995