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  • 電子繞射分析。
  • 不同維度之EDS定性及半定量成分分析。
  • EDS搭配STEM的BF, DF2, DF4, HAADF偵測器同步獲取影像和光譜訊號可進行光譜原素全畫面(full frame)、 選區(selected area)和線掃描(line scan)等掃描分析模式。
  • NBD strain分析。
  • 3D電子束體層攝影術影像及成分分析(S/TEM and EDS)。
  • 樣品升溫反應資訊。
  • 樣本製備要求:

    為減少儀器不必要的污染並確保系統穩定運作,本中心對試片種類及試片製備上有以下規定,凡未符合規定者,本單位有權拒絕受理。

    ˙ 必需已於校內【EM0000017504】(場發射槍穿透式電子顯微鏡FE-TEM)分析確認過樣品狀況。

    ˙ 預約使用本儀器者, 請於預約時段前 7 天 ,主動且詳實填寫 【EM011800】(場 發射掃描/穿透式電子顯微鏡 Talos FES/TEM)儀器預約相關注意事項與樣品檢測申請表 每一欄位,並完成回傳確認後,才可進行委託操作流程;未依規定完成者,將取消該預約時段。

    ˙ 粉末樣品(奈米材料): 粉末或奈米材料滴附在鍍碳銅網後,請務必於80℃以上溫度烘乾至少24小時,並於乾燥箱或真空狀態下保存。若樣品放入機台後,導致真空度異常(真空讀值高於標準值Accelerator= 1,Column = 1,Detection Unit < 25),將立即中止實驗並取出樣品。

    ˙ 具磁性的樣品 (凡含有Fe、Co、Ni等元素) 禁用本機台。 樣品替代製備方式:(粉末樣品-適用冷凍切薄機(Ultramicrotome)而塊材與薄膜樣品適用-場發射雙束型聚焦離子束顯微鏡(FIB))。

    ˙ 如需使用 NanoEx-i/v 加熱載座,請務必檢附高於 100 °C 分析溫度之 TGA 與 DSC 數據,以利評估並觀察樣品於升溫分析過程中的變化。

    收費標準:(依使用狀況調整)

    開放服務對象:校內、校外學術單位及產業界

    儀器委託操作申請服務辦法

    1.每月25日上午9點至國科會基礎研究核心設施預約服務管理系統,預約下一個月序號,序號預約完畢後與技術員聯繫討論委託操作時段。

    線上預約網址: https://vir.nstc.gov.tw/

    2. 取消預約請於5天前系統自行取消;否則酌收儀器時段基本費。

    聯絡資訊:

  • 儀器負責教授: 陳詩芸 教授
    TEL:(02)2737-6517
    E-mail:SYChen@mail.ntust.edu.tw
  • 儀器負責技術員:吳盈瑩 小姐
    TEL:(02)2733-3141#7413
    E-mail:ying22.wu@mail.ntust.edu.tw
  • 106335 臺北市大安區基隆路 4 段 43 號
    No.43, Keelung Rd., Sec.4, Da'an Dist., Taipei City 106335, Taiwan (R.O.C.)
    Tel: 886-2-27333141
    24小時緊急校安專線: 0800-695995